Aspectos Destacados del Producto

Métodos Universales de Contraste Óptico
Luz reflejada: campo brillante, campo oscuro, polarización (POL), contraste óptico de interferencia diferencial (DIC), epifluorescencia e interferometría de dos haces.

Accesorios Modulares de Componentes
Desde la lámpara hasta el ocular, los componentes se seleccionan para que coincidan con la aplicación del usuario. Incluyen soportes, etapas, objetivos, portanarices, cabezales ópticos, oculares, cámaras digitales, filtros y accesorios de técnica de contraste.

Comunicación Digital Inteligente
Mediante un controlador LV-ECON E, los microscopios LV150NA y LV150N pueden detectar y controlar la lente objetivo, la intensidad de la luz, la apertura y el epicontraste a través del software NIS-Elements de Nikon. El LV150N detecta e informa sobre la lente objetivo mediante el LV-NU5I y el LV-INAD..

Diseño Ergonómico
La disposición óptima de los controles del operador y un tubo ocular de ángulo variable permiten un trabajo libre de fatiga. La imagen en la posición correcta permite observar adecuadamente materias primas, semiconductores y componentes industriales.

Características Principales

Inspecciones de Materiales y Substratos Semiconductores
Ejemplos de aplicaciones incluyen la inspección de sustratos semiconductores y empaques de dispositivos, pantallas de panel plano (FPD), componentes electrónicos y materiales innovadores utilizando técnicas de contraste episcópico dedicadas.

Para obtener más información sobre ECLIPSE LV150NA and LV150N, visite el sitio web Nikon Industrial Metrology