L200NA

Es una gama de microscopios para semiconductores ideal para la inspección de circuitos integrados (CI), pantallas de panel plano (PFP), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas otras aplicaciones.

Microscopios Avanzados para la Inspección de las Últimas Fabricaciones

La excelente óptica Nikon CFI60-2 proporciona imágenes de calidad tanto a los oculares como a las cámaras de imágenes digitales de Nikon con software de análisis. Combinar estas ópticas superiores con un sistema de iluminación extraordinario produce imágenes de excelente contraste y resolución.

Nikon ECLIPSE L300N(D) y L200N(D) Estos microscopios son para una inspección óptica excepcionalmente precisa de obleas (200 mm para la serie L200N y 300 mm para la serie L300N), retículas y otros sustratos.

Serie Óptica Nikon CFI60-2 El diseño innovador de Nikon permite técnicas de imagen claras, incluyendo alto contraste, campo brillante, campo oscuro, polarización (POL), contraste óptico de interferencia diferencial (DIC) e interferometría de doble haz.